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纳米颗粒材料表面形貌结构AFM表征中针尖干扰的修正与评价

    摘要
  • 摘要: 原子力显微镜(AFM)被广泛地用来进行纳米尺度和亚微米尺度结构材料的形貌表征,其优点是制样简单、无需进行导电处理.但当针尖与样品作用时,由于针尖自身的成像作用,导致得到的图像结果比实际结果要大,这就是针尖的放大效应.文章基于一种简单的数学模型,得到了对实测图像的修正结果.对于一般金字塔形针尖,AFM的放大作用可导致粒子尺寸比真实尺寸大近2倍.实测图像的失真状况与针尖的形状因子、粒子的分散状态等因素有关.结论与实验结果完全一致

     

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