摘要: 电场调制反射光谱（简称ｅｌｅｃｔｒｏｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ或ＥＲ）是进行半导体能带结构研究和材料鉴定的重要手段．１９６４年，Ｓｅｒａｐｈｉｎ［１］首次观测到与Ｇｅ的基本吸收边Ｅ０有关的ＥＲ谱结构．七十年代初，ＥＲ谱已成为研究半导体材料性质的有效手段．七十年代后期，随着近代光谱技术的蓬勃发展和各种大型谱仪的出现，ＥＲ谱曾一度出现了停滞的状况．高近两年的研究发现，调制光谱方法在研究半导体超晶格和?...