摘要: 自从１９６８年Ｃｒｅｗｅ教授及其同事们进行了场发射透射扫描电子显微镜的开创性工作［１］以来，透射扫描电子显微术有了很大的进展．透射扫描电子显微镜（ＳＴＥＭ）把扫描电子显微镜（ＳＥＭ）和普通透射电子显微镜（ＣＴＥＭ）的优点结合起来，成为材料科学和生物学的强有力的研究工具．Ｃｒｅｗｅ和Ｗａｌｌ［２］指出，透射扫描电子显微镜的各种衬度图象与普通透射电子显微镜的相应衬度图象十分相似，这种相似性可以用?...