摘要: 一、引言大量事实表明，Ｘ射线形貌技术对大块近完整晶体内各种类型缺陷的观察是一种很好的方法１］．铁磁、铁电畴和畴壁作为一种形式的面缺陷，其形貌观察的结果同样显示了该方法有着许多独特的优点．早在１９６０年Ｋ．Ｍｅｘｚ用Ｘ射线反射形貌方法首次成功地显示了铁磁体内畴的一些组态．后来人们又在许多铁磁材料中作过畴的Ｘ射线形貌观察，特别是对Ｆｅ，Ｆｅ－Ｓｉ中畴的观察结果大大丰富了有关磁畴及畴壁结构和它们在....