摘要: 一、前言近几年来，由于电子技术的飞速发展，尤其是电子计算机的广泛应用，许多电子仪器与半导体器件倾向于高速化与数字化．要求具有陡峭上升沿与下降沿的高重复频率的方波脉冲．例如：快速开关二极管，高频三极管与集成电路等半导体器件的开关参数的测试；宽频带示波器与脉冲放大器的时域响应的测试；快速甄别器及快速定标器等电子学仪器的分辨时间等指标的测试．此外，还有试制和测试雷达系统，遥测系统，数字逻辑和计数器?...